UniVista Tespert DIAG是一款创新高效的缺陷诊断软件工具，自主研发了高效准确的诊断引擎，采用新一代数据结构，支持压缩和非压缩的测试向量诊断技术。其图形化界面提供了缺陷全景对照，帮助工程师快速定位和解决系统性缺陷，大幅提升芯片测试效率，加速产品上市时间。
产品特性
- 精准的缺陷定位：通过利用版图信息，UniVista Tespert DIAG能够精确地确定缺陷的失效机制、逻辑位置和物理位置，这有助于快速识别和解决系统性缺陷
- 新一代Layout Database：采用新一代的物理缺陷数据存储管理方案，实现更小更安全的关系型数据库，支持高效率和高并发查询
- 灵活高效的Volume Diagnosis：创新的并行诊断引擎不仅提高了诊断效率和吞吐量，还通过降低资源消耗，有效降低了量产诊断的运行成本
- 图形化缺陷全景对照：UniVista Tespert DIAG提供了丰富的图形化视图，允许用户在同一GUI窗口中查看网表、电路结构、仿真波形、版图信息以及故障日志文件，实现了灵活的缺陷报告查看和位置跟踪
- 故障分析友好的诊断报告：自动嵌入有限的缺陷相关数据，使FA工程师能够利用诊断报告进行全景对照分析，提高故障分析的成功率和效率。同时助力芯片设计公司和晶圆厂之间的数据通路，加速了良率提升的过程
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